设备型号：PCT - 35 内部尺寸：35 x 45 cm 温度范围：常温+15℃ ~ 133℃ 湿度：默认值100% 压力范围：0.5kg ~ 3kg

设备系统采用自主开发的C100型PID温湿度控制加模糊逻辑控制系统，中英文菜单式人机对话操作方式，操作参数少，操作过程简单是本设备的特点。并具有开机自检功能，温度湿度线性校正,自动停机，系统预约定时启动功能。具备自动组合制冷、加热、真空等子系统的工况，从而保证在整个温度范围内的高精度控制，为了解决能耗问题该控制系统采用冷端调节控制方式，该控制方式获得了国家专Z利证书并且改变整个行业的设备能耗问题。 完善的检测

广东宏展仪器有限公司是一家专业从事开发、设计和生产可靠性及环境试验设备及各类检测仪器的公司。客户产业遍及于电工电子、半导体、光电、通讯、航天、机械、实验室、汽车等科技产业。从产品研发到售后服务，每一个环节之间，都以客户的观点与需-求作为思考的出发点。[图片][图片]

东莞市艾思荔试验设备是一家专业从事开发、设计和生产可靠性及环境试验设备(LED专用冷热冲击试验箱)及各类检测仪器的公司。我们的宗旨是为客户提供具

原文来源：pct高压加速老化试验箱简介 作者：艾思荔仪器（V：asli13538469076） 产品用途：pct高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验。 型号规格及参数：（mm） 型号:PCT-25 350×350 750×1260×930 型号:PCT-35 350×450 800×1260×930 型号:PCT-45 450×550 960×1380×1050 型号:PCT-55 550×650 1050×1450×1100 型号:PCT-65 650×750 1150

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PCT高温蒸煮试验箱用途： PCT高温蒸煮试验箱又称高压加速老化试验箱，135**3237**0059适用于国防、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。 PCT高温蒸煮试验箱的特点： 1、计时安装，LED数字型计时器，当锅内温度达到后计时器确保试验完全，计时从表格1驱动。 2、的压力

DFN8-1.27（5*6)下压探针老化座 产品简介 A、产品用途:老化座、测试座，对DFN8的IC芯片进行老化测试 B、适用封装:WSON\QFN\DFN8 引脚间距1.27mm C、测试座:WSON\QFN\DFN8(5*6)-1.27 D、特点:探针结构，接触稳定，性能更稳定 E、座子外壳采用特殊的工程塑胶，强度硬、寿命长 F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD G、IC进行有锡球、无锡球不同测试，，交期快，提高使用效率 规格尺寸 A、型号:WSON\QFN\DFN8(5*6)-1.27 B、引脚间距(mm):1.27 C、脚位:8 D、芯片尺寸:5*6

说明: PCT试验一般称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验，最主要是将待测品置于严苛之温 度、饱和湿度（100%R.H.)[饱和水蒸气]及压力环境下测试，测试代测品耐高湿能力，针对印 刷线路板（PCB&FPC)，用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验..等试验目的，如果待测品是 半导体的话，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境 下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之

说明：PCT试验一般称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验，最主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度(100%R.H.)[饱和水蒸气]及压力环境下测试，测试代测品耐高湿能力，针对印刷线路板(PCB&FPC)，用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验..等试验目的，如果待测品是半导体的话，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之介面渗入封装体之中，常

设备介绍： PCT高压加速老化试验箱是一种利用加热产生蒸汽，密闭的蒸锅内，其中的蒸汽不能外溢，压力不断上升，使水的沸点不断提高，从而锅内温度也随之增加。一般用于产品，材料在严苛的温度，饱和湿度(100％R.H0)，【饱和水 蒸汽】及压力环境下其耐高湿能力的试验设备。例如：测试印刷线路板（PCB或FPC）吸湿率，半导体封装之抗湿气能力，动金属化区域腐蚀造成之断路，封装体引脚间因污染造成之短路等。 试验机结构特点: 1. 圆型内箱,不锈

PCT试验机规格： 1.内箱尺寸 : Φ300×D450 （mm) 2.外箱尺寸 : W660×H1050×D1250 （mm) 3.内箱材质 : SUS 304#不锈钢板材质. 4.外箱材质 : 高级烤漆 或 不锈钢 5.温度范围 : 100℃～ 132℃. (饱和蒸气温度). 6.湿度范围 : ***RH . (饱和蒸气湿度). 7.压力范围 : 0.2Kg/cm2～2.4Kg/cm2控制点压力. 8.时间范围: 0 ~ 999 小时可调. 9.温度分布:(+/-)2.0℃. 10.升温时间:RT ~ 132℃约45分钟内. （控制点温度）. 11.加压时间:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2 约40分钟内（控制点压力）. 12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动

PCT试验机结构特点: 1. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象； 2. 圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击； 3. 水管采用铜管+喇叭口，精密设计,气密性良好,耗水量； 4. 专用型packing ,材质：耐高温夕胶发泡成型，内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤 压式完全不同,可延长packing寿命； 6. 实验开始前可将原来内箱之空气抽出，并吸入过滤器,过滤之新空气packing

规格： 1.内箱尺寸 : Φ300×D450 （mm) 2.外箱尺寸 : W660×H1050×D1250 （mm) 3.内箱材质 : SUS 304#不锈钢板材质. 4.外箱材质 : 高级烤漆 或 不锈钢 5.温度范围 : 100℃～ 132℃. (饱和蒸气温度). 6.湿度范围 : ***RH . (饱和蒸气湿度). 7.压力范围 : 0.2Kg/cm2～2.4Kg/cm2控制点压力. 8.时间范围: 0 ~ 999 小时可调. 9.温度分布:(+/-)2.0℃. 10.升温时间:RT ~ 132℃约45分钟内. （控制点温度）. 11.加压时间:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2 约40分钟内（控制点压力）. 12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制

PCT高压加速老化试验箱(又名PCT老化试验箱)是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，主要是模拟气候环境测试产品在不同温度、湿度及压力下密封性、气密性的试验设备。其广泛应用于电子器件、汽车零配件、塑胶、线路板、IC、LCD、LED、磁铁等行业。 PCT高压加速老化试验箱最主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体

瑞凯PCT试验机主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,稀土材料,钕铁硼,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快

PCT试验机主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,稀土材料,钕铁硼,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验

温度试验的过程中液氮会持续消耗，对于一些低利润率的民用行业就会希望能够控制使用成本。对于加热的部分基本不存在大的改善空间了，而制冷的部分是否可以考虑进行改善。对于快速降温确实液氮的效率是不二之选。 设备特点： 1.标准设计更安全：内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范； 2.自主技术：大型彩色液晶触摸控制器，侧面缆线孔方便外部负载及内部数据连接，通过选购接口可进行网络监控； 3.全自动补水功能：试

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比亚迪汽车有限公司成功订购东莞瑞凯仪器出厂的PCT-350高压加速老化试验箱！比亚迪品牌创立于1995年，全球30多个生基地，主要生产销售锂离子电池以及其他电池、充电器、电子产品、仪器仪表、柔性线路板、五金制品、液晶显示器等产品。此次，采购深圳比亚迪汽车的采购经理通过网络寻找选出了东莞三家PCT高压加速老化试验箱生产，瑞凯仪器也在其中。经过采购经理以及技术工程师到厂家实地考察后，最终选定瑞凯品牌PCT-350高压加速老化试验箱

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